泰勒粗糙度仪DUO
内容简介: 泰勒粗糙度仪DUO
SURTRONIC DUO粗糙度仪,可测Ra,Rz两种参数。DUO具有红外接口可在距离被测物1米处进行测量。
技术参数;
测量范围:200µm
误差:0.8mm±15%
分辨率:Ra:0.1µm-40µm
Rz::0.1µm-199µm
滤波器:ISO 2CR
尺寸:125×80×38mm
重量:200g
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泰勒粗糙度仪DUO
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泰勒粗糙度仪DUO
SURTRONIC DUO粗糙度仪,可测Ra,Rz两种参数。DUO具有红外接口可在距离被测物1米处进行测量。
技术参数;
测量范围:200µm
误差:0.8mm±15%
分辨率:Ra:0.1µm-40µm
Rz::0.1µm-199µm
滤波器:ISO 2CR
尺寸:125×80×38mm
重量:200g