日本TOPCON近红外分光辐射计 SR-NIR能测定从FPD到微弱发光的近红外领域

2025/03/22 14:27:27

近红外分光辐射计 SR-NIR

高精度测定微弱近红外光

产品概要

近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。
之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。
TOPCON在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，
开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。
本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。

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特点

￭能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
￭高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。
￭和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。

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主要用途

￭观察各类FPD的近红外领域的输出。
￭观察Ne、Ar的光谱线输出。
￭光学膜等的近红外透过特性评价。
￭其他光源的近红外分光测量

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技术规格

光亮采集	电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理	衍射光栅
光学系统	对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°
测定角	2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
*小测定直径(mmφ)	2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ)
测定距离	350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
测定波长范围	600 – 1030nm
光谱波宽	6 – 8nm (半波宽)
波长分解能力	1nm
测定模式	自动/手动 (积分时间/频率）、外部垂直同步信号输入
测定内容	分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1
测定范围(*1)	2.0° : 0.5 – 3,000 cd/m2 1.0° : 　1 – 9,000 cd/m2 0.2° : 20 – 70,000 cd/m2 0.1° : 100 – 300,000 cd/m2
重复精度(*2)	±2% 以下
偏光特性	分光辐射亮度　5％以下
校正基准	本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
测定时间(*3)	约 1 – 31 秒
界面	RS-232C, USB 2.0
电源	AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz,
功率	约 34W
使用条件	温度: 5 – 35℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸(W×D×H)	150×406×239mm
质量	约 5.5kg